تقرير تحليل مرتجعات العملاء لجهاز 10G BIDI 100KM

تقرير تحليل مرتجعات العملاء لـ 10G BIDI 100KM

1. نتائج الاختبار الأولية:

مؤخرًا، تلقينا منتج 10G BIDI 1490/1550NM 100KM تم إرجاعه من قبل العميل.

تجري شركتنا اختبارات درجة الحرارة العادية على الوحدات التي تم إرجاعها من قبل العملاء للتأكيد:

الوحدات ذات الأرقام التسلسلية SN:HL26C0119003 و SN:HL26C0119004 في سلسلة SFP-10G-100BXU لديها انبعاث ضوئي منخفض. علاوة على ذلك، فإن استقبال هاتين الوحدتين لا يعمل بشكل صحيح.

2.إجراءات التحليل:1. SN:HL26C0119003 قوة الإرسال الضوئي المقاسة فعليًا للوحدة منخفضة جدًا، حوالي -22 ديسيبل ميلي واط:

SN:HL26C0119004 قوة الإرسال الضوئي المقاسة فعليًا للوحدة منخفضة جدًا، حوالي -18 ديسيبل ميلي واط:

يحدث انخفاض سطوع الوحدتين المذكورتين أعلاه بسبب حركة أجهزة الإرسال. من المستحيل تحسين الطاقة من خلال المزيد من التصحيح. الحل الوحيد هو استبدال الأجهزة. بعد استبدال الأجهزة وإجراء اختبار آخر، تكون طاقة السطوع كما هو موضح في الشكل التالي:

• SN:HL26C0119003

SN:HL26C0119004

2. SN:TEL26C0119004 عند اختبار حساسية الوحدة على جهاز اختبار الأخطاء البتية، تم اكتشاف أن الاستقبال لا يعمل بشكل صحيح. كانت إشارة الطاقة الضوئية المستقبلة حوالي -25 ديسيبل ميلي واط، وأظهرت معلومات DDM المستقبلة تشوهات:

بعد فتح الغطاء، باستخدام إعداد الجهد للملتيميتر لقياس الجهد العالي العكسي الذي يستقبله APD (حوالي 30 فولت)، كان الجهد المقاس غير طبيعي، وكانت قيمة الجهد المقاسة 7.3 فولت:

• بعد إزالة لوحة مرنة استقبال APD، تم قياس الجهد عند طرف خرج الجهد العالي العكسي للوحة الرئيسية عند 28.8 فولت مرة أخرى. كان القياس طبيعيًا:

• وفقًا لنتائج الاختبار، يمكن استنتاج أن APD قد تعرض للتلف. هناك سببان محتملان لتلف APD: أحدهما هو الانهيار الكهروستاتيكي؛ والآخر هو أنه أثناء الاستخدام أو الكشف، تم إدخال إشارة طاقة ضوئية عالية جدًا، مما تسبب في تجاوز الصمام الثنائي الانهياري داخل APD للقيمة الحدية وتلفه.

• عند اكتشاف أو استخدام منتج مع استقبال APD، قبل إدخال إشارة الطاقة الضوئية إلى طرف الاستقبال، يجب إضعاف إشارة الطاقة الضوئية لكل قناة إلى ≤ -7 ديسيبل ميلي واط أو أقل لمنع إشارات الطاقة الضوئية المفرطة من إتلاف مكون APD.
• بعد استبدال جهاز Bosa الجديد وإجراء تعديلات دقيقة، تم اختبار الحساسية مرة أخرى. أظهرت نتائج الاختبار اتصالًا طبيعيًا.
• 3. اقتراح:

          بعض الاقتراحات أثناء عملية الاستخدام:

الانتباه إلى اتخاذ تدابير الحماية من الكهرباء الساكنة

• الحفاظ على نظافة موصل كابل الألياف الضوئية أثناء الاستخدام
• 4

. اقتراحات العملاء للاستخدام:تعليمات تشغيل المنتج

          الوحدات الضوئية حساسة للغاية لتفريغ الكهرباء الساكنة والمعالجة غير السليمة. نوصي بأن يتبع المستخدمون دائمًا هذه الاحتياطات أثناء التشغيل:

المناولة العامة

عندما لا يكون المنتج قيد الاستخدام، تأكد من أن سدادة الغبار المطاطية في مكانها بإحكام.

• إذا كان لحام دبابيس المكون ضروريًا، فتأكد من أن المكون غير مشحون كهربائيًا أثناء العملية. يجب أن يكون مكواة اللحام مؤرضة بشكل صحيح، ويجب ألا يتجاوز وقت اللحام لكل دبوس 5 ثوانٍ، مع الحفاظ على درجة حرارة اللحام أقل من 300 درجة مئوية.
• عند توصيل منتجات SFP القابلة للتبديل السريع بمعدات النظام أو منصة الاختبار الخاصة بك، أدخلها بعناية وبشكل متساوٍ. لإزالة المنتج، اسحب شريط السحب أولاً، ثم اسحب المنتج بلطف أفقيًا.
• مناولة الألياف

          الألياف الضوئية هشة للغاية. بالنسبة للمنتجات ذات ذيول الألياف، يجب اتخاذ الاحتياطات التالية:
عندما لا يكون المنتج قيد الاستخدام، إذا لم يكن لديك طريقة تخزين فعالة، فمن المستحسن تخزينه في صندوق التعبئة الأصلي.

• إذا لم يكن المنتج قيد الاستخدام، يجب دائمًا تغطية سدادة الغبار المطاطية لموصل الألياف.
• لا تضع المنتج في مناطق قد تتعرض فيها الألياف أو ذيل الألياف لضغط غير متساوٍ أو حيث قد تسقط الأشياء عليها.
• يجب ألا يقل نصف قطر الانحناء الأدنى للألياف عن 5 سم.
• تنظيف نهايات الألياف

حافظ دائمًا على نظافة نهايات الألياف. يمكن أن يؤدي تلوث نهاية الألياف المتصلة إلى تدهور أداء الجهاز وزيادة انعكاس النهاية، مما يؤثر سلبًا على النظام.

• قبل الاختبار، قم بتنظيف نهاية موصل الألياف. إذا لوحظت تقلبات في الطاقة أو أنماط عين ضبابية، قم بتنظيف نهاية حلقة الوحدة باستخدام مسحة قطنية مغموسة في الإيثانول. كن حذرًا للغاية عند مسح النهاية لتجنب إتلاف الوحدة.
• خطر تفريغ الكهرباء الساكنة (ESD)

          الأجهزة الكهروضوئية حساسة للغاية لتفريغ الكهرباء الساكنة. يجب اتخاذ احتياطات كافية لضمان تأريض المشغلين ومقاعد الاختبار بشكل صحيح. حتى الشحنة الصغيرة يمكن أن تتلف الأجهزة الكهروضوئية، مما يؤدي إلى تلف شديد للمنتج أو تدهور الأداء.